Testen der optischen Eigenschaften von PICs

Wie winzige, aber mächtige Photonic Integrated Circuits (PICs) die Zukunft unserer Telekommunikation vorantreiben.

PICs bringen die Photonik in den Bereich der integrierten Elektronik, indem sie in einem kompakten Design photonische Komponenten wie Laser und Modulatoren mit optoelektronischen, elektrooptischen, vollelektronischen oder sogar HF-Funktionen und endlosem Anwendungspotenzial vereinen. Für die optische Charakterisierung von PICs gibt es verschiedene Testlösungen und Messmethoden. Dieses White Paper behandelt die Grundprinzipien der optischen Prüfung direkt auf Wafern und die besten Messmethoden für aktive und passive Komponenten auf dem PIC-Chip.


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